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| >>國標(biāo)對電子產(chǎn)品進(jìn)行交變鹽霧試驗時的有關(guān)說明 |
| 國標(biāo)對電子產(chǎn)品進(jìn)行交變鹽霧試驗時的有關(guān)說明 |
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| 時間：2015/3/13 9:19:12 |
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國標(biāo)GB/T2423.18-2000適用于確定元器件和設(shè)備在含鹽的潮濕環(huán)境下使用或貯存的適應(yīng)性。本標(biāo)準(zhǔn)可以用作腐蝕試驗，也可以檢驗非金屬材料受鹽霧影響而造成的劣化，還可用于考核元器件和設(shè)備在鹽霧環(huán)境下的性能變化。
鹽分對金屬材料的腐蝕是屬于電化學(xué)性的，而對非金屬材料的損壞卻是由鹽分與該材料之間復(fù)雜的化學(xué)反應(yīng)所引起的。腐蝕損壞速率在很大程度上取決于試驗樣品表面的含氧鹽溶液和試驗樣品的溫度以及環(huán)境的溫度和濕度。
在試驗期間，噴霧時間足以使試驗樣品充分潤濕，而且噴霧還要在試驗樣品濕熱條件下貯存一段時間后重復(fù)進(jìn)行。因此這種鹽霧試驗方法在某種程度上是模擬天然鹽霧環(huán)境的。
本試驗與多數(shù)使用條件相比，是加速的。但是它不可能對各種不同類型的樣品具有相同的加速系數(shù)。
本鹽霧試驗由鹽霧和濕熱貯存二種條件組成。試驗樣品在噴霧過程中不通電；在濕熱貯存期間，通常也不通電。本標(biāo)準(zhǔn)等效采用國際標(biāo)準(zhǔn)IEC68-2-52（1984）《試驗Kb：交變鹽霧試驗方法》。
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